原子力顯微鏡AFM-價格|原子力顯微鏡應(yīng)用|原子力顯微鏡的應(yīng)用-上海艾測電子科技有限公司

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產(chǎn)品目錄

廠商名稱	產(chǎn)品名稱	產(chǎn)品訂貨號	貨期（周）	產(chǎn)品價格
中國	原子力顯微鏡AFM	A1130363	洽詢	洽詢

產(chǎn)品特點

學(xué)原理為基礎(chǔ)，通過掃描探針與樣品表面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。一般原子力顯微

鏡利用探針對樣品掃描，探針固定在對探針與樣品表面作用力極敏感的微懸臂上。懸臂受力偏折會引

起由激光源發(fā)出的激光束經(jīng)懸臂反射后發(fā)生位移。檢測器接受反射光，最后接受信號經(jīng)過計算機系統(tǒng)

采集、處理、形成樣品表面形貌圖像。計算機全數(shù)字化控制，操作簡捷直觀。

步進(jìn)馬達(dá)自動進(jìn)行針尖－－樣品逼近，保證實驗圓滿成功。

深度陡度測量，三維顯示。

納米材料粗糙度測量、顆粒徑度測量及分布統(tǒng)計。

Ｘ、Ｙ二維樣品移動平臺，快速搜索樣品區(qū)域．

標(biāo)準(zhǔn)RS232串行接口,無需任何計算機卡

樣品觀測范圍從0.001um-20000um。

掃描速度達(dá)40000點/秒

可選配納米刻蝕功能模塊。

技術(shù)指標(biāo)

SPM探頭

樣品尺寸：直徑小等于30mm；厚度小等于15mm

XY最大掃描范圍：標(biāo)準(zhǔn)6X6微米

XY向分辨率：0.4nm(輕敲模式)；0.3nm（AFM模式）；0.1nm(STM模式)

Ｚ向分辨率：0.05nm(輕敲模式)；0.03nm（AFM模式）；001nm(STM模式)

XY二維樣品移動范圍：５mm；精度0.5微米

步進(jìn)馬達(dá)自動進(jìn)行針尖-樣品逼近

44-283X連續(xù)變倍彩色CCD顯微觀察系統(tǒng)(選配)

電化學(xué)針尖塊，液電池，液體輕敲式成像功能（選配）

全金屬屏蔽防震隔音箱/精密隔震平臺（選購）

測量特性

電子學(xué)控制器:
XYZ控制	18-Bit D/A
數(shù)據(jù)采樣	14-BitA/D、16 Bit A/D多路同步采樣
Z向反饋	DSP數(shù)字反饋
反饋采樣速率	64.0KHz
高壓放大器	集成高壓運算放大器，最大電壓范圍+/-150V
頻率范圍	20K-1000KHz
幅度范圍	0-10.0V
掃描速率	>40000點/秒
掃描角度	0-360度連續(xù)可調(diào)
掃描偏移	任意
圖像采樣點	256X256或512X512
步進(jìn)馬達(dá)控制	手動和自動進(jìn)退
計算機接口	標(biāo)準(zhǔn)RS232串行/USB

物理特性

可選附件

持有證書

備注

產(chǎn)品規(guī)格列表

產(chǎn)品訂貨號	產(chǎn)品介紹	符合標(biāo)準(zhǔn)	最小訂量	價格	貨期	備注
A1130363	原子力顯微鏡AFM：SPM探頭；樣品尺寸：直徑小等于30mm；厚度小等于15mm；XY最大掃描范圍：標(biāo)準(zhǔn)6X6微米；XY向分辨率：0.4nm(輕敲模式)；0.3nm（AFM模式）；0.1nm(STM模式)；Ｚ向分辨率：0.05nm(輕敲模式)；0.03nm（AFM模式）；001nm(STM模式)；XY二維樣品移動范圍：５mm；精度0.5微米；步進(jìn)馬達(dá)自動進(jìn)行針尖-樣品逼近；44-283X連續(xù)變倍彩色CCD顯微觀察系統(tǒng)(選配)；電化學(xué)針尖塊，液電池，液體輕敲式成像功能（選配）；全金屬屏蔽防震隔音箱/精密隔震平臺（選購），；品牌：中國		1	洽詢	洽詢	備注