廠商名稱 |
產(chǎn)品名稱 |
產(chǎn)品訂貨號(hào) |
貨期(周) |
產(chǎn)品價(jià)格 |
中國(guó) |
掃描隧道顯微鏡 |
A1130360 |
洽詢 |
洽詢 |
產(chǎn)品特點(diǎn)
原子力顯微鏡(Atomic force microscopy)是一種以物理學(xué)原理為基礎(chǔ),通過(guò)掃描探針與樣品表
面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。一般原子力顯微鏡利用探針對(duì)樣品掃描,探針固定在對(duì)
探針與樣品表面作用力極敏感的微懸臂上。懸臂受力偏折會(huì)引起由激光源發(fā)出的激光束經(jīng)懸臂反射后
發(fā)生位移。檢測(cè)器接受反射光,最后接受信號(hào)經(jīng)過(guò)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)采集、處理、形成樣品表面形貌圖像。
計(jì)算機(jī)全數(shù)字化控制,操作簡(jiǎn)捷直觀。
步進(jìn)馬達(dá)自動(dòng)進(jìn)行針尖--樣品逼近,保證實(shí)驗(yàn)圓滿成功。
深度陡度測(cè)量,三維顯示。
納米材料粗糙度測(cè)量、顆粒徑度測(cè)量及分布統(tǒng)計(jì)。
X、Y二維樣品移動(dòng)平臺(tái),快速搜索樣品區(qū)域.
標(biāo)準(zhǔn)RS232串行接口,無(wú)需任何計(jì)算機(jī)卡
樣品觀測(cè)范圍從0.001um-20000um。
掃描速度達(dá)40000點(diǎn)/秒
可選配納米刻蝕功能模塊。
技術(shù)指標(biāo)
STM探頭
樣品尺寸:厚度小等于15mm。
XY最大掃描范圍:標(biāo)準(zhǔn)6X6微米
可選3μm×3μm,10μm×10μm,20μm×20μm,50μm×50μm,100μm×100μm
Z向分辨率:0.01nm(HOPG定標(biāo))
XY二維樣品移動(dòng)范圍:5mm
樣品-針尖白光照明
步進(jìn)馬達(dá)自動(dòng)進(jìn)行針尖-樣品逼近(自動(dòng)保護(hù)針尖)
全金屬屏蔽防震隔音箱(選配)
精密隔震平臺(tái)(選配)
測(cè)量特性
電子學(xué)控制器: |
|
XYZ控制 |
18-Bit D/A |
數(shù)據(jù)采樣 |
14-BitA/D、16 Bit A/D多路同步采樣 |
Z向反饋 |
DSP數(shù)字反饋 |
反饋采樣速率 |
64.0KHz |
高壓放大器 |
集成高壓運(yùn)算放大器,最大電壓范圍+/-150V |
頻率范圍 |
--- |
幅度范圍 |
--- |
掃描速率 |
21Hz |
掃描角度 |
0-360度連續(xù)可調(diào) |
掃描偏移 |
任意 |
圖像采樣點(diǎn) |
256X256或512X512 |
步進(jìn)馬達(dá)控制 |
手動(dòng)和自動(dòng)進(jìn)退 |
計(jì)算機(jī)接口 |
標(biāo)準(zhǔn)RS232串行/USB |
物理特性
可選附件
持有證書(shū)
備注
產(chǎn)品規(guī)格列表
產(chǎn)品訂貨號(hào) |
產(chǎn)品介紹 |
符合標(biāo)準(zhǔn) |
最小訂量 |
價(jià)格 |
貨期 |
備注 |
A1130360 |
掃描隧道顯微鏡STM:STM探頭;樣品尺寸:厚度小等于15mm;XY最大掃描范圍:標(biāo)準(zhǔn)6X6微米;可選3μm×3μm,10μm×10μm,20μm×20μm,50μm×50μm,100μm×100μm;Z向分辨率:0.01nm(HOPG定標(biāo));XY二維樣品移動(dòng)范圍:5mm;樣品-針尖白光照明;步進(jìn)馬達(dá)自動(dòng)進(jìn)行針尖-樣品逼近(自動(dòng)保護(hù)針尖);全金屬屏蔽防震隔音箱(選配);精密隔震平臺(tái)(選配),;品牌: 中國(guó) |
|
1 |
洽詢 |
洽詢 |
備注 |