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涂層測厚儀

-創(chuàng)新的SIDSP（探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理）技術(shù)提升了測量的精確性

-測量范圍達15mm，可更換F、N或FN探頭，供內(nèi)置或外接探頭使用

-FN探頭自動識別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，操作方便不易出錯

SIDSP技術(shù)-全球最新技術(shù)，智能數(shù)字化的涂層測厚探頭

模擬信號處理時代已成過去，數(shù)字信號處理將成為未來的趨勢

涂層測厚儀采用的SIDSP是什么？

SIDSP是由ElektrPhysik（簡稱EPK）研發(fā)的，世界領(lǐng)先的涂層測厚探頭技術(shù)。EPK此項技術(shù)為涂層測厚領(lǐng)域的創(chuàng)新奠定了新

標準。

SIDSP即探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理，這項技術(shù)使探頭在測量時，同時在探頭內(nèi)部將信號完全處理為數(shù)字形式。SIDSP探頭完全依

據(jù)世界頂尖技術(shù)生產(chǎn)。

涂層測厚儀的SIDSP工作原理？

跟傳統(tǒng)技術(shù)不同，SIDSP在探頭頂部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號，回傳的信號經(jīng)過32位數(shù)字轉(zhuǎn)換和處理，帶給您精確的涂層厚度

值。此項尖端的數(shù)字處理技術(shù)，同時應(yīng)用在現(xiàn)代通訊技術(shù)（手機網(wǎng)絡(luò)）方面，如數(shù)字濾波器，基帶轉(zhuǎn)換，平均值，隨機分

析，等等。此項技術(shù)能獲得與模擬信號處理無可比擬的信號質(zhì)量和精確度。厚度值通過探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置。

SIDSP探頭與普通模擬探頭相比，具有決定性的優(yōu)勢，為涂層測厚設(shè)定了一個新的標準。

涂層測厚儀為什么選擇SIDSP？

SIDSP探頭具有極高的抗干擾性

任何與測量相關(guān)的信號，都由SIDSP在靠近探頭頂部的位置進行處理。測量信號不會通過探頭電纜傳輸時受到干擾，因為不

再有測量信號的傳輸。探頭電纜僅僅為探頭供電，并傳輸數(shù)字化的厚度值到顯示裝置。即使您的測量工件需要特別長的電纜

線也沒問題，加長的電纜線同樣具有極強的抗干擾能力。

涂層測厚儀SIDSP-測量信號高穩(wěn)定性

EPK的SIDSP探頭具有極高的重現(xiàn)性。將探頭放在同一測量點測量幾次，每次您都可以得到基本一樣的結(jié)果，再次證明了

SIDSP探頭的優(yōu)秀性能。

涂層測厚儀高精確度的SIDSP探頭特征曲線

在生產(chǎn)過程中，EPK的SIDSP探頭要經(jīng)過嚴格的校準。一般的模擬探頭只會在特征曲線上選幾個點來校準，但SIDSP探頭不

同：由于是全自動化過程，探頭在50個點上進行校準，大大降低了特征曲線的偏離。因此特征曲線在整個量程范圍內(nèi)都十分

精準，將測量錯誤降至最低。

涂層測厚儀SIDSP探頭對溫度變化不敏感

在生產(chǎn)過程中，對每個SIDSP探頭都進行了溫度補償?shù)木幋a，這對于模擬探頭是根本不可能實現(xiàn)的。這樣溫度改變就不會影

響測量，與溫度相關(guān)的錯誤不會在SIDSP探頭上發(fā)生！

涂層測厚儀SIDSP探頭適應(yīng)性強

需要快速測量幾個點嗎？只要開啟快速測量模式，探頭自動轉(zhuǎn)換到特定設(shè)置。想進行高精度測量嗎？沒問題，只要選擇高精

度模式，儀器同樣能自動轉(zhuǎn)換。不論您要求測量單個數(shù)值還是連續(xù)測量，SIDSP都能完成您的選擇！

涂層測厚儀SIDSP N和FN型探頭基體導(dǎo)電性補償

由于使用了EPK特殊的自動補償方法，SIDSP電渦流探頭可以適應(yīng)多種導(dǎo)電性不同的非鐵基體材料，如銅，鈦，等等，無需特

別在基體上校準儀器。

涂層測厚儀SIDSP-未來解決方案

EPK將繼續(xù)改進SIDSP技術(shù)以滿足客戶的需求。您可以從EPK的網(wǎng)站進行免費的軟件升級，使您的SIDSP探頭總是最新版本。

涂層測厚儀及SIDSP

新的MiniTest 700產(chǎn)品線，加強了EPK在全球涂層測厚市場的領(lǐng)導(dǎo)地位.

有了新的SIDSP F型探頭（測量鐵基體）和N型探頭（測量非鐵基體），您可享受到高精確度和高重現(xiàn)性帶給您的優(yōu)勢和便

利。新的MiniTest 700可以解決您所有涂層厚度問題，而產(chǎn)品優(yōu)質(zhì)的外觀是您長期價值和成功的關(guān)鍵，比如汽車、造船、鋼

鐵、橋梁建筑，或電鍍等行業(yè)。

涂層測厚儀增加了測量速度設(shè)置選項

可以讓您輕松變換測量需求。在對精度要求不高的條件下，您可以短時間測量大量數(shù)值；也可以只測量少數(shù)幾個數(shù)值，但要

求精度很高，您只需選擇相應(yīng)的模式就可以做到。測量值超過您所設(shè)定的極限值時，儀器會報警，保證您即使在快速模式下

也不會錯過任何信息。儀器具備聲、光報警，在極限范圍內(nèi)用綠色LED燈表示，超過極限值則用紅色LED燈提示。

涂層測厚儀使用簡單方便

預(yù)設(shè)選項節(jié)省您的時間和金錢

所有MiniTest 700探頭都可以對不規(guī)則形狀表面做出補償。當您在無涂層基體上校零時，整個量程范圍都在這個特定的形狀

和材料基礎(chǔ)上進行校準。為節(jié)省您的時間和金錢，儀器預(yù)設(shè)了大量校準方法，適用于各種表面情況和精度要求。您可選擇出

廠校準，零點校準，2點校準和3點校準。另外，還有針對不同粗糙程度的粗糙度校準。FN探頭自動識別基體類型避免操作者

犯錯。為適應(yīng)全球銷售需要，MINITEST 700滿足各種國際標準：SSPC-PA2，ISO，瑞典（SS184160），澳大利亞（AS

3894.3），ISO 19840和ASTM D7091（以前的D1186和D1400）。

涂層測厚儀優(yōu)點一覽：

-SIDSP使測量不受干擾，測值更加精確

-FN探頭自動識別基體，使測量更迅速，避免操作錯誤

-溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤

-生產(chǎn)過程中50點校準使儀器獲得高精確度的特征曲線

-大存儲量，能存儲10或100組多達100,000個讀數(shù)

-讀數(shù)和統(tǒng)計值能單獨調(diào)出

-超大，背光顯示屏，顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)

-菜單指引操作，25種語言可選

-帶IrDA接口，紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機和PC

-可下載更新軟件

涂層測厚儀標準配置： 推薦配件:

帶塑料手提箱，內(nèi)含： -F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測量支架 內(nèi)置探頭)

-校準套裝含校準片和零板

-操作使用說明CD，德語、英語、法語、西班牙語

-2節(jié)AA電池

型號特性	主機
探頭類型	內(nèi)置
數(shù)據(jù)記憶組數(shù)	10
存儲數(shù)據(jù)量	最多10,000個
統(tǒng)計值	讀值個數(shù)，最小值，最大值，平均值，標準方差，變異系數(shù)，組統(tǒng)計值（標準設(shè)置/自由配置）
校準程序符合國際標準和規(guī)范	ISO，SSPC，瑞典標準，澳大利亞標準
校準模式	出廠設(shè)置校準，零點校準，2點校準，3點校準，使用者可調(diào)節(jié)補償值
極限值監(jiān)控	聲、光報警提示超過極限
測量單位	um，mm，cm；mils，inch，thou
操作溫度	-10℃-60℃
存放溫度	-20℃-70℃
數(shù)據(jù)接口	IrDA 1.0（紅外接口）
電源	2節(jié)AA電池
標準	DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 ASTM B244，B499，D7091，E376 AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2
體積	157mm x 75.5mm x 49mm
重量	約175g

探頭貨號	A1531583	A1531584		A1531585	A1531586	A1531587	A1531588		A1531589	A1531590
探頭特性	F1.5	N0.7		N1.5	F2	F5	N2.5		FN5	F15
	F		N		F	F		N		F
測量范圍	0-1.5mm		0-0.7mm		0-2mm	0-5mm		0-2.5mm		0-15mm
使用范圍	小工件，薄涂層，跟測量支架一起使用				粗糙表面	標準探頭，使用廣泛				厚涂層
測量原理	磁感應(yīng)		電渦流		磁感應(yīng)	磁感應(yīng)		電渦流		磁感應(yīng)
信號處理	探頭內(nèi)部32位信號處理（SIDSP）
精確度	±（1μm+0.75%讀值）				±（1.5μm+0.75%讀值）					±（5μm+0.75%讀值）
重復(fù)性	±（0.5μm+0.5%讀值）				±（0.8μm+0.5%讀值）					±（2.5μm+0.5%讀值）
低端分辨率	0.05μm				0.1μm					1μm
最小曲率半徑（凸）	1.0mm				1.5mm					5mm
最小曲率半徑（凹，外置探頭）	7.5mm				10mm					25mm
最小曲率半徑（凹，內(nèi)置探頭）	30mm				30mm					30mm
最小測量面積	Φ5mm				Φ10mm					Φ25mm
最小基體厚度	0.3mm		40μm		0.5mm	0.5mm		40μm		1mm
連續(xù)模式下測量速度	每秒20個讀數(shù)
單值模式下最大測量速度	每分鐘70個讀數(shù)