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艾測電子科技有限公司

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廠商名稱 產(chǎn)品名稱 產(chǎn)品訂貨號 貨期(周) 產(chǎn)品價(jià)格
德國EPK 涂鍍層測厚儀 A1531188 洽詢 16884

產(chǎn)品特點(diǎn)

涂層測厚儀

測厚儀用于測量以下覆層(覆層包括涂層,鍍層等):

• 鋼鐵基體上的非磁性覆層

• 有色金屬上的絕緣覆層

• 絕緣基體上的有色金屬覆層

電源:1X9V堿性電池或外接電源

電池壽命:10000次測量

工作環(huán)境溫度:主機(jī)0-50℃,測頭-10℃-70℃,暫時(shí)工作可達(dá)120℃

主機(jī)尺寸/重量:150mmx82mmx35mm/270克

*另有耐高溫測頭

適用標(biāo)準(zhǔn):

DIN50891,50982,50984,ISO2178,2360,BS5411,ASTM B 499,B244-CE ISO

技術(shù)指標(biāo)

技術(shù)特征

A1531188

A1531189

A1531530

A1531531

MINITEST存儲的數(shù)據(jù)量

應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同測頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))

1

1

10

99

每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計(jì)計(jì)算,可設(shè)寬容度極限值)

1

10

98

可用各自的日期時(shí)間標(biāo)識特性的組數(shù)

1

最多500

最多500

數(shù)據(jù)總量

1

10000

10000

10000

MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能

讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar

讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x(均值的均值),s,n,max,min,kvar,cp,cpk

組統(tǒng)計(jì)值六種x,x,n,max,min,kvar

組統(tǒng)計(jì)值八種 x(均值的均值),s,n,max,min,kvar,cp,cpk

存儲顯示每一應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)

分組打印以上顯示和存儲得數(shù)據(jù)、統(tǒng)計(jì)值

顯示并打印測量值、打印的日期和時(shí)間

MINITEST 校準(zhǔn)方法

透過涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC

在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn)

利用PC機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn)

補(bǔ)償一個(gè)常數(shù)(OFFSET

外設(shè)的讀值傳輸存儲功能

保護(hù)并鎖訂校準(zhǔn)值

更換電池時(shí)存儲讀值

設(shè)置極限值

公英制轉(zhuǎn)換

連續(xù)測量模式快速測量,通過模擬柱識別最大最小值

連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀值

浮點(diǎn)或定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送

無需連接測頭即可讀數(shù)值

組內(nèi)單值延遲顯示

連續(xù)測量模式中顯示最小值

 

測量特性

測頭

量程

低端分辨率

容差

最小曲率半徑(凸/凹)

最小測量面積

最小基體厚度

尺寸(mm

A1531540

FN1.6

01600μm

0.1μm

±1%+1μm

1.5mm/10mm

φ5mm

F0.5mm/N50μm

φ15x62

A1531541

FN1.6P

0—1600μm

0.1μm

±1%+1μm

只限平直表面

φ30mm

F0.5mm/N50μm

φ21x89

A1531542

FN2(也適合銅上鉻)

0—2000μm

0.2μm

±1%+1μm

1.5mm/10mm

φ5mm

F0.5mm/N50μm

φ15x62

A1531532

F05

0—500μm

0.1μm

±1%+0.7μm

1mm/5mm

φ3mm

0.2mm

φ15x62

A1531533

F1.6

0—1600μm

0.1μm

±1%+1μm

1.5mm/10mm

φ5mm

0.5mm

φ15x62

A1531536

F3*

0—3000μm

0.2μm

±1%+1μm

1.5mm/10mm

φ5mm

0.5mm

φ15x62

A1531534

F1.6/90(管內(nèi)測頭)

0—1600μm

0.1μm

±1%+1μm

平直/6mm

φ5mm

0.5mm

φ8x8x170

A1531535

F2/90(管內(nèi)測頭)

0—2000μm

0.2μm

±1%+1μm

平直/6mm

φ5mm

0.5mm

φ8x8x170

A1531537

F10

0—10mm

5μm

±1%+10μm

5mm/16mm

φ20mm

1mm

φ25x46

A1531538

F20

0—20mm

10μm

±1%+10μm

10mm/30mm

φ40mm

2mm

φ40x65

A1531539

F50

0—50mm

10μm

±3%+50μm

50mm/200mm

φ300mm

2mm

φ45x70

A1531543

N02

0—200μ

0.1μm

±1%+0.5μmm

1mm/10mm

φ2mm

50μm

φ16x70

A1531544

N08Cr(適合銅上鉻)

0—80μm

0.1μm

±1%+1μm

2.5mm

φ2mm

100μm

φ15x62

A1531545

N1.6

0—1600μm

0.1μm

±1%+1μm

1.5mm/10mm

φ2mm

50μm

φ15x62

A1531547

N2

0—2000μm

0.2μm

±1%+1μm

1.5mm/10mm

φ5mm

50μm

φ15x62

A1531546

N1.6/90 (管內(nèi)

測頭)

0—1600μm

0.1μm

±1%+1μm

平直/10mm

φ5mm

50μm

φ13x13x170

A1531548

N2/90 (管內(nèi)測頭)

0—2000μm

0.2μm

±1%+1μm

平直/10mm

φ5mm

50μm

φ13x13x170

A1531549

N10

0—10mm

10μm

±1%+25μm

25mm/100mm

φ50mm

50μm

φ60x50

A1531550

N20

0—20mm

10μm

±1%+50μm

25mm/100mm

φ70mm

50μm

φ65x75

A1531551

N100

0—100mm

100μm

±1%+0.3mm

100mm/平直

φ200mm

50μm

φ126x155

A1531552

CN02(絕緣基體上的有色金屬覆層)

10—200μm

0.2μm

±1%+1μm

只限平直表面

φ7mm

無限制

φ17x80

 

物理特性

可選附件

持有證書

備注

產(chǎn)品規(guī)格列表
產(chǎn)品訂貨號 產(chǎn)品介紹 符合標(biāo)準(zhǔn) 最小訂量 價(jià)格 貨期 備注
A1531188 涂層測厚儀:應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同測頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)):1;數(shù)據(jù)總量:1;在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn);利用PC機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn);保護(hù)并鎖訂校準(zhǔn)值;更換電池時(shí)存儲讀值;公英制轉(zhuǎn)換;連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀值;浮點(diǎn)或定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送;連續(xù)測量模式中顯示最小值;品牌:德國EPK 1 16884 洽詢 備注
A1531189 涂層測厚儀:應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同測頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)):1;每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計(jì)計(jì)算,可設(shè)寬容度極限值)1;可用各自的日期時(shí)間標(biāo)識特性的組數(shù)1;數(shù)據(jù)總量:10000;讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar;組統(tǒng)計(jì)值六種x,x,n,max,min,kvar;顯示并打印測量值、打印的日期和時(shí)間;透過涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC);在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn);利用PC機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn);外設(shè)的讀值傳輸存儲功能;保護(hù)并鎖訂校準(zhǔn)值;更換電池時(shí)存儲讀值;公英制轉(zhuǎn)換;連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀值;浮點(diǎn)或定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送;無需連接測頭即可讀數(shù)值;組內(nèi)單值延遲顯示;連續(xù)測量模式中顯示最小值;品牌: 德國EPK 1 20693 洽詢 備注
A1531530 涂鍍層測厚儀:應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同測頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)):10;每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計(jì)計(jì)算,可設(shè)寬容度極限值)10;可用各自的日期時(shí)間標(biāo)識特性的組數(shù)最多500;數(shù)據(jù)總量:10000;讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x(均值的均值),s,n,max,min,kvar,cp,cpk;組統(tǒng)計(jì)值八種 x(均值的均值),s,n,max,min,kvar,cp,cpk;分組打印以上顯示和存儲得數(shù)據(jù)、統(tǒng)計(jì)值;顯示并打印測量值、打印的日期和時(shí)間;透過涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC);在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn);利用PC機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn);補(bǔ)償一個(gè)常數(shù)(OFFSET);外設(shè)的讀值傳輸存儲功能;保護(hù)并鎖訂校準(zhǔn)值;更換電池時(shí)存儲讀值;設(shè)置極限值;公英制轉(zhuǎn)換;連續(xù)測量模式快速測量,通過模擬柱識別最大最小值;連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀值;浮點(diǎn)或定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送;無需連接測頭即可讀數(shù)值;組內(nèi)單值延遲顯示;連續(xù)測量模式中顯示最小值;品牌:德國EPK 1 25163 洽詢 備注
A1531531 涂鍍層測厚儀:應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同測頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)):99;每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計(jì)計(jì)算,可設(shè)寬容度極限值)98;可用各自的日期時(shí)間標(biāo)識特性的組數(shù)最多500;數(shù)據(jù)總量:10000;讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x(均值的均值),s,n,max,min,kvar,cp,cpk;組統(tǒng)計(jì)值八種 x(均值的均值),s,n,max,min,kvar,cp,cpk;存儲顯示每一應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù);分組打印以上顯示和存儲得數(shù)據(jù)、統(tǒng)計(jì)值;顯示并打印測量值、打印的日期和時(shí)間;透過涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC);在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn);利用PC機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn);補(bǔ)償一個(gè)常數(shù)(OFFSET);外設(shè)的讀值傳輸存儲功能;保護(hù)并鎖訂校準(zhǔn)值;更換電池時(shí)存儲讀值;設(shè)置極限值;公英制轉(zhuǎn)換;連續(xù)測量模式快速測量,通過模擬柱識別最大最小值;連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀值;浮點(diǎn)或定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送;無需連接測頭即可讀數(shù)值;組內(nèi)單值延遲顯示;連續(xù)測量模式中顯示最小值;品牌:德國EPK 1 28200 洽詢 備注
A1531532 測頭:量程:0—500μm;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+0.7μm);最小曲率半徑(凸/凹):1mm/5mm;最小測量面積:φ3mm;最小基體厚度:0.2mm;尺寸(mm):φ15x62;品牌:德國EPK 1 10106 洽詢 備注
A1531533 測頭:量程:0—1600μm;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):1.5mm/10mm;最小測量面積:φ5mm;最小基體厚度:0.5mm;尺寸(mm):φ15x62;品牌:德國EPK 1 6648 洽詢 備注
A1531534 管內(nèi)測頭:量程:0—1600μm;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):平直/6mm;最小測量面積:φ5mm;最小基體厚度:0.5mm;尺寸(mm):φ8x8x170;品牌:德國EPK 1 14191 洽詢 備注
A1531535 管內(nèi)測頭:量程:0—2000μm;低端分辨率:0.2μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):平直/6mm;最小測量面積:φ5mm;最小基體厚度:0.5mm;尺寸(mm):φ8x8x170;品牌:德國EPK 1 14191 洽詢 備注
A1531536 測頭:量程:0—3000μm;低端分辨率:0.2μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):1.5mm/10mm;最小測量面積:φ5mm;最小基體厚度:0.5mm;尺寸(mm):φ15x62;品牌:德國EPK 1 6648 洽詢 備注
A1531537 測頭:量程:0—10mm;低端分辨率:5μm;容差:±(1%+10μm);最小曲率半徑(凸/凹):5mm/16mm;最小測量面積:φ20mm;最小基體厚度:1mm;尺寸(mm):φ25x46;品牌:德國EPK 1 10852 洽詢 備注
A1531538 測頭:量程:0—20mm;低端分辨率:10μm;容差:±(1%+10μm);最小曲率半徑(凸/凹):10mm/30mm;最小測量面積:φ40mm;最小基體厚度:2mm;尺寸(mm):φ40x65;品牌:德國EPK 1 11349 洽詢 備注
A1531539 測頭:量程:0—50mm;低端分辨率:10μm;容差:±(3%+50μm);最小曲率半徑(凸/凹):50mm/200mm;最小測量面積:φ300mm;最小基體厚度:2mm;尺寸(mm):φ45x70;品牌:德國EPK 1 32715 洽詢 備注
A1531540 測頭:量程:0—1600μm;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):1.5mm/10mm;最小測量面積:φ5mm;最小基體厚度:F0.5mm/N50μm;尺寸(mm):φ15x62;品牌:德國EPK 1 14787 洽詢 備注
A1531541 測頭:量程:0—1600μm;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):只限平直表面;最小測量面積:φ30mm;最小基體厚度:F0.5mm/N50μm;尺寸(mm):φ21x89;品牌:德國EPK 1 31215 洽詢 備注
A1531542 測頭:也適合銅上鉻;量程:0—2000μm;低端分辨率:0.2μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):1.5mm/10mm;最小測量面積:φ5mm;最小基體厚度:F0.5mm/N50μm;尺寸(mm):φ15x62;品牌:德國EPK 1 17560 洽詢 備注
A1531543 測頭:量程:0—200μ;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+0.5μmm);最小曲率半徑(凸/凹):1mm/10mm;最小測量面積:φ2mm;最小基體厚度:50μm;尺寸(mm):φ16x70;品牌:德國EPK 1 11478 洽詢 備注
A1531544 測頭:適合銅上鉻;量程:0—80μm;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):2.5mm;最小測量面積:φ2mm;最小基體厚度:100μm;尺寸(mm):φ15x62;品牌:德國EPK 1 11478 洽詢 備注
A1531545 測頭:量程:0—1600μm;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):1.5mm/10mm;最小測量面積:φ2mm;最小基體厚度:50μm;尺寸(mm):φ15x62;品牌:德國EPK 1 10494 洽詢 備注
A1531546 管內(nèi)測頭:量程:0—1600μm;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):平直/10mm;最小測量面積:φ5mm;最小基體厚度:50μm;尺寸(mm):φ13x13x170;品牌:德國EPK 1 16577 洽詢 備注
A1531547 測頭:量程:0—2000μm;低端分辨率:0.2μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):1.5mm/10mm;最小測量面積:φ5mm;最小基體厚度:50μm;尺寸(mm):φ15x62;品牌:德國EPK 1 22390 洽詢 備注
A1531548 管內(nèi)測頭:量程:0—2000μm;低端分辨率:0.2μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):平直/10mm;最小測量面積:φ5mm;最小基體厚度:50μm;尺寸(mm):φ13x13x170;品牌:德國EPK 1 16577 洽詢 備注
A1531549 測頭:量程:0—10mm;低端分辨率:10μm;容差:±(1%+25μm);最小曲率半徑(凸/凹):25mm/100mm;最小測量面積:φ50mm;最小基體厚度:50μm;尺寸(mm):φ60x50;品牌:德國EPK 1 22390 洽詢 備注
A1531550 測頭:量程:0—20mm 低端分辨率:10μm;容差:±(1%+50μm);最小曲率半徑(凸/凹):25mm/100mm;最小測量面積:φ70mm;最小基體厚度:50μm;尺寸(mm):φ65x75;品牌:德國EPK 1 22390 洽詢 備注
A1531551 測頭:量程:0—100mm;低端分辨率:100μm;容差:±(1%+0.3mm);最小曲率半徑(凸/凹):100mm/平直;最小測量面積:φ200mm;最小基體厚度:50μm;尺寸(mm):φ126x155;品牌:德國EPK 1 28400 洽詢 備注
A1531552 測頭:絕緣基體上的有色金屬覆層:量程:10—200μm;低端分辨率:0.2μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):只限平直表面;最小測量面積:φ7mm;最小基體厚度:無限制;尺寸(mm):φ17x80;品牌:德國EPK 1 16397 洽詢 備注
A1531553 測頭:鐵基體上未固化粉末涂層:0-1600um,低端分辨率0.1um;品牌:德國EPK 1 20690 洽詢 備注
A1531554 測頭:鋁箔或鋁薄壁管上薄涂層;0-200um,分辨率0.1um;品牌:德國EPK 1 22688 洽詢 備注
A1531555 用于測頭N02 Tu的專用支架;品牌:德國EPK 1 33421 洽詢 備注
A1531556 RS232 接口電纜 for 2100/4100;品牌:德國EPK 1 930 洽詢 備注
A1531557 MSOFT41 數(shù)據(jù)分析軟件 for 4100:配MiniTest 1100/2100/3100/4100 (用于連接個(gè)人電腦);品牌:德國EPK 1 4651.7 洽詢 備注
A1531558 精密探頭支架:Probe guide, precision;品牌:德國EPK 1 36385 洽詢 備注
AL1532285 MiniPrint4100專用打印機(jī):適合EPK除700系列所有產(chǎn)品;品牌:德國EPK 1 7891 洽詢 備注
AL1532286 MiniPrint4100-2包可充電電池:(需2包電池,version 2&3);品牌:德國EPK 1 640 洽詢 備注
AL1532287 測頭:鐵及銅鋁基體上未固化粉末涂層:0-1600um,分辨率0.1um;品牌:德國EPK 1 19617 洽詢 備注
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