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艾測電子科技有限公司

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廠商名稱 產(chǎn)品名稱 產(chǎn)品訂貨號 貨期（周） 產(chǎn)品價格
德國EPK 涂鍍層測厚儀 A1531188 洽詢 16884

產(chǎn)品特點

涂層測厚儀

測厚儀用于測量以下覆層（覆層包括涂層，鍍層等）：

• 鋼鐵基體上的非磁性覆層

• 有色金屬上的絕緣覆層

• 絕緣基體上的有色金屬覆層

電源：1X9V堿性電池或外接電源

電池壽命：10000次測量

工作環(huán)境溫度：主機(jī)0-50℃，測頭-10℃-70℃，暫時工作可達(dá)120℃

主機(jī)尺寸/重量：150mmx82mmx35mm/270克

*另有耐高溫測頭

適用標(biāo)準(zhǔn)：

DIN50891，50982，50984，ISO2178，2360，BS5411，ASTM B 499，B244-CE ISO

技術(shù)指標(biāo)

技術(shù)特征

A1531188

A1531189

A1531530

A1531531

MINITEST存儲的數(shù)據(jù)量

應(yīng)用行數(shù)（根據(jù)不同測頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)）

1

1

10

99

每個應(yīng)用行下的組（BATCH）數(shù)（對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計計算，可設(shè)寬容度極限值）

1

10

98

可用各自的日期時間標(biāo)識特性的組數(shù)

1

最多500

最多500

數(shù)據(jù)總量

1

10000

10000

10000

MINITEST統(tǒng)計計算功能

讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar

●

讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x（均值的均值）,s,n,max,min,kvar,cp,cpk

●

●

組統(tǒng)計值六種x,x,n,max,min,kvar

●

組統(tǒng)計值八種 x（均值的均值）,s,n,max,min,kvar,cp,cpk

●

●

存儲顯示每一應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)

●

分組打印以上顯示和存儲得數(shù)據(jù)、統(tǒng)計值

●

●

顯示并打印測量值、打印的日期和時間

●

●

●

MINITEST 校準(zhǔn)方法

透過涂層進(jìn)行校準(zhǔn)（CTC）

●

●

●

在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn)

●

●

●

●

利用PC機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn)

●

●

●

●

補(bǔ)償一個常數(shù)（OFFSET）

●

●

外設(shè)的讀值傳輸存儲功能

●

●

●

保護(hù)并鎖訂校準(zhǔn)值

●

●

●

●

更換電池時存儲讀值

●

●

●

●

設(shè)置極限值

●

●

公英制轉(zhuǎn)換

●

●

●

●

連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別最大最小值

●

●

連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀值

●

●

●

●

浮點或定點方式數(shù)據(jù)傳送

●

●

●

●

無需連接測頭即可讀數(shù)值

●

●

●

組內(nèi)單值延遲顯示

●

●

●

連續(xù)測量模式中顯示最小值

●

●

●

●

 

測量特性

測頭

量程

低端分辨率

容差

最小曲率半徑（凸/凹）

最小測量面積

最小基體厚度

尺寸（mm）

A1531540

FN1.6

0—1600μm

0.1μm

±（1%+1μm）

1.5mm/10mm

φ5mm

F0.5mm/N50μm

φ15x62

A1531541

FN1.6P

0—1600μm

0.1μm

±（1%+1μm）

只限平直表面

φ30mm

F0.5mm/N50μm

φ21x89

A1531542

FN2（也適合銅上鉻）

0—2000μm

0.2μm

±（1%+1μm）

1.5mm/10mm

φ5mm

F0.5mm/N50μm

φ15x62

A1531532

F05

0—500μm

0.1μm

±（1%+0.7μm）

1mm/5mm

φ3mm

0.2mm

φ15x62

A1531533

F1.6

0—1600μm

0.1μm

±（1%+1μm）

1.5mm/10mm

φ5mm

0.5mm

φ15x62

A1531536

F3*

0—3000μm

0.2μm

±（1%+1μm）

1.5mm/10mm

φ5mm

0.5mm

φ15x62

A1531534

F1.6/90（管內(nèi)測頭）

0—1600μm

0.1μm

±（1%+1μm）

平直/6mm

φ5mm

0.5mm

φ8x8x170

A1531535

F2/90（管內(nèi)測頭）

0—2000μm

0.2μm

±（1%+1μm）

平直/6mm

φ5mm

0.5mm

φ8x8x170

A1531537

F10

0—10mm

5μm

±（1%+10μm）

5mm/16mm

φ20mm

1mm

φ25x46

A1531538

F20

0—20mm

10μm

±（1%+10μm）

10mm/30mm

φ40mm

2mm

φ40x65

A1531539

F50

0—50mm

10μm

±（3%+50μm）

50mm/200mm

φ300mm

2mm

φ45x70

A1531543

N02

0—200μ

0.1μm

±（1%+0.5μmm）

1mm/10mm

φ2mm

50μm

φ16x70

A1531544

N08Cr（適合銅上鉻）

0—80μm

0.1μm

±（1%+1μm）

2.5mm

φ2mm

100μm

φ15x62

A1531545

N1.6

0—1600μm

0.1μm

±（1%+1μm）

1.5mm/10mm

φ2mm

50μm

φ15x62

A1531547

N2

0—2000μm

0.2μm

±（1%+1μm）

1.5mm/10mm

φ5mm

50μm

φ15x62

A1531546

N1.6/90 （管內(nèi)

測頭）

0—1600μm

0.1μm

±（1%+1μm）

平直/10mm

φ5mm

50μm

φ13x13x170

A1531548

N2/90 （管內(nèi)測頭）

0—2000μm

0.2μm

±（1%+1μm）

平直/10mm

φ5mm

50μm

φ13x13x170

A1531549

N10

0—10mm

10μm

±（1%+25μm）

25mm/100mm

φ50mm

50μm

φ60x50

A1531550

N20

0—20mm

10μm

±（1%+50μm）

25mm/100mm

φ70mm

50μm

φ65x75

A1531551

N100

0—100mm

100μm

±（1%+0.3mm）

100mm/平直

φ200mm

50μm

φ126x155

A1531552

CN02（絕緣基體上的有色金屬覆層）

10—200μm

0.2μm

±（1%+1μm）

只限平直表面

φ7mm

無限制

φ17x80

 

物理特性

可選附件

持有證書

備注

產(chǎn)品規(guī)格列表
產(chǎn)品訂貨號 產(chǎn)品介紹 符合標(biāo)準(zhǔn) 最小訂量 價格 貨期 備注
A1531188 涂層測厚儀：應(yīng)用行數(shù)（根據(jù)不同測頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)）：1；數(shù)據(jù)總量：1；在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn)；利用PC機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn)；保護(hù)并鎖訂校準(zhǔn)值；更換電池時存儲讀值；公英制轉(zhuǎn)換；連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀值；浮點或定點方式數(shù)據(jù)傳送；連續(xù)測量模式中顯示最小值；品牌：德國EPK 1 16884 洽詢 備注
A1531189 涂層測厚儀：應(yīng)用行數(shù)（根據(jù)不同測頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)）：1；每個應(yīng)用行下的組（BATCH）數(shù)（對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計計算，可設(shè)寬容度極限值）1；可用各自的日期時間標(biāo)識特性的組數(shù)1；數(shù)據(jù)總量：10000；讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar；組統(tǒng)計值六種x,x,n,max,min,kvar；顯示并打印測量值、打印的日期和時間；透過涂層進(jìn)行校準(zhǔn)（CTC）；在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn)；利用PC機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn)；外設(shè)的讀值傳輸存儲功能；保護(hù)并鎖訂校準(zhǔn)值；更換電池時存儲讀值；公英制轉(zhuǎn)換；連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀值；浮點或定點方式數(shù)據(jù)傳送；無需連接測頭即可讀數(shù)值；組內(nèi)單值延遲顯示；連續(xù)測量模式中顯示最小值；品牌： 德國EPK 1 20693 洽詢 備注
A1531530 涂鍍層測厚儀：應(yīng)用行數(shù)（根據(jù)不同測頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)）：10；每個應(yīng)用行下的組（BATCH）數(shù)（對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計計算，可設(shè)寬容度極限值）10；可用各自的日期時間標(biāo)識特性的組數(shù)最多500；數(shù)據(jù)總量：10000；讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x（均值的均值）,s,n,max,min,kvar,cp,cpk；組統(tǒng)計值八種 x（均值的均值）,s,n,max,min,kvar,cp,cpk；分組打印以上顯示和存儲得數(shù)據(jù)、統(tǒng)計值；顯示并打印測量值、打印的日期和時間；透過涂層進(jìn)行校準(zhǔn)（CTC）；在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn)；利用PC機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn)；補(bǔ)償一個常數(shù)（OFFSET）；外設(shè)的讀值傳輸存儲功能；保護(hù)并鎖訂校準(zhǔn)值；更換電池時存儲讀值；設(shè)置極限值；公英制轉(zhuǎn)換；連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別最大最小值；連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀值；浮點或定點方式數(shù)據(jù)傳送；無需連接測頭即可讀數(shù)值；組內(nèi)單值延遲顯示；連續(xù)測量模式中顯示最小值；品牌：德國EPK 1 25163 洽詢 備注
A1531531 涂鍍層測厚儀：應(yīng)用行數(shù)（根據(jù)不同測頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)）：99；每個應(yīng)用行下的組（BATCH）數(shù)（對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計計算，可設(shè)寬容度極限值）98；可用各自的日期時間標(biāo)識特性的組數(shù)最多500；數(shù)據(jù)總量：10000；讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x（均值的均值）,s,n,max,min,kvar,cp,cpk；組統(tǒng)計值八種 x（均值的均值）,s,n,max,min,kvar,cp,cpk；存儲顯示每一應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)；分組打印以上顯示和存儲得數(shù)據(jù)、統(tǒng)計值；顯示并打印測量值、打印的日期和時間；透過涂層進(jìn)行校準(zhǔn)（CTC）；在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn)；利用PC機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn)；補(bǔ)償一個常數(shù)（OFFSET）；外設(shè)的讀值傳輸存儲功能；保護(hù)并鎖訂校準(zhǔn)值；更換電池時存儲讀值；設(shè)置極限值；公英制轉(zhuǎn)換；連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別最大最小值；連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀值；浮點或定點方式數(shù)據(jù)傳送；無需連接測頭即可讀數(shù)值；組內(nèi)單值延遲顯示；連續(xù)測量模式中顯示最小值；品牌：德國EPK 1 28200 洽詢 備注
A1531532 測頭：量程：0—500μm；低端分辨率：0.1μm；容差：±（1%+0.7μm）；最小曲率半徑（凸/凹）：1mm/5mm；最小測量面積：φ3mm；最小基體厚度：0.2mm；尺寸（mm）：φ15x62；品牌：德國EPK 1 10106 洽詢 備注
A1531533 測頭：量程：0—1600μm；低端分辨率：0.1μm；容差：±（1%+1μm）；最小曲率半徑（凸/凹）：1.5mm/10mm；最小測量面積：φ5mm；最小基體厚度：0.5mm；尺寸（mm）：φ15x62；品牌：德國EPK 1 6648 洽詢 備注
A1531534 管內(nèi)測頭：量程：0—1600μm；低端分辨率：0.1μm；容差：±（1%+1μm）；最小曲率半徑（凸/凹）：平直/6mm；最小測量面積：φ5mm；最小基體厚度：0.5mm；尺寸（mm）：φ8x8x170；品牌：德國EPK 1 14191 洽詢 備注
A1531535 管內(nèi)測頭：量程：0—2000μm；低端分辨率：0.2μm；容差：±（1%+1μm）；最小曲率半徑（凸/凹）：平直/6mm；最小測量面積：φ5mm；最小基體厚度：0.5mm；尺寸（mm）：φ8x8x170；品牌：德國EPK 1 14191 洽詢 備注
A1531536 測頭：量程：0—3000μm；低端分辨率：0.2μm；容差：±（1%+1μm）；最小曲率半徑（凸/凹）：1.5mm/10mm；最小測量面積：φ5mm；最小基體厚度：0.5mm；尺寸（mm）：φ15x62；品牌：德國EPK 1 6648 洽詢 備注
A1531537 測頭：量程：0—10mm；低端分辨率：5μm；容差：±（1%+10μm）；最小曲率半徑（凸/凹）：5mm/16mm；最小測量面積：φ20mm；最小基體厚度：1mm；尺寸（mm）：φ25x46；品牌：德國EPK 1 10852 洽詢 備注
A1531538 測頭：量程：0—20mm；低端分辨率：10μm；容差：±（1%+10μm）；最小曲率半徑（凸/凹）：10mm/30mm；最小測量面積：φ40mm；最小基體厚度：2mm；尺寸（mm）：φ40x65；品牌：德國EPK 1 11349 洽詢 備注
A1531539 測頭：量程：0—50mm；低端分辨率：10μm；容差：±（3%+50μm）；最小曲率半徑（凸/凹）：50mm/200mm；最小測量面積：φ300mm；最小基體厚度：2mm；尺寸（mm）：φ45x70；品牌：德國EPK 1 32715 洽詢 備注
A1531540 測頭：量程：0—1600μm；低端分辨率：0.1μm；容差：±（1%+1μm）；最小曲率半徑（凸/凹）：1.5mm/10mm；最小測量面積：φ5mm；最小基體厚度：F0.5mm/N50μm；尺寸（mm）：φ15x62；品牌：德國EPK 1 14787 洽詢 備注
A1531541 測頭：量程：0—1600μm；低端分辨率：0.1μm；容差：±（1%+1μm）；最小曲率半徑（凸/凹）：只限平直表面；最小測量面積：φ30mm；最小基體厚度：F0.5mm/N50μm；尺寸（mm）：φ21x89；品牌：德國EPK 1 31215 洽詢 備注
A1531542 測頭：也適合銅上鉻；量程：0—2000μm；低端分辨率：0.2μm；容差：±（1%+1μm）；最小曲率半徑（凸/凹）：1.5mm/10mm；最小測量面積：φ5mm；最小基體厚度：F0.5mm/N50μm；尺寸（mm）：φ15x62；品牌：德國EPK 1 17560 洽詢 備注
A1531543 測頭：量程：0—200μ；低端分辨率：0.1μm；容差：±（1%+0.5μmm）；最小曲率半徑（凸/凹）：1mm/10mm；最小測量面積：φ2mm；最小基體厚度：50μm；尺寸（mm）：φ16x70；品牌：德國EPK 1 11478 洽詢 備注
A1531544 測頭：適合銅上鉻；量程：0—80μm；低端分辨率：0.1μm；容差：±（1%+1μm）；最小曲率半徑（凸/凹）：2.5mm；最小測量面積：φ2mm；最小基體厚度：100μm；尺寸（mm）：φ15x62；品牌：德國EPK 1 11478 洽詢 備注
A1531545 測頭：量程：0—1600μm；低端分辨率：0.1μm；容差：±（1%+1μm）；最小曲率半徑（凸/凹）：1.5mm/10mm；最小測量面積：φ2mm；最小基體厚度：50μm；尺寸（mm）：φ15x62；品牌：德國EPK 1 10494 洽詢 備注
A1531546 管內(nèi)測頭：量程：0—1600μm；低端分辨率：0.1μm；容差：±（1%+1μm）；最小曲率半徑（凸/凹）：平直/10mm；最小測量面積：φ5mm；最小基體厚度：50μm；尺寸（mm）：φ13x13x170；品牌：德國EPK 1 16577 洽詢 備注
A1531547 測頭：量程：0—2000μm；低端分辨率：0.2μm；容差：±（1%+1μm）；最小曲率半徑（凸/凹）：1.5mm/10mm；最小測量面積：φ5mm；最小基體厚度：50μm；尺寸（mm）：φ15x62；品牌：德國EPK 1 22390 洽詢 備注
A1531548 管內(nèi)測頭：量程：0—2000μm；低端分辨率：0.2μm；容差：±（1%+1μm）；最小曲率半徑（凸/凹）：平直/10mm；最小測量面積：φ5mm；最小基體厚度：50μm；尺寸（mm）：φ13x13x170；品牌：德國EPK 1 16577 洽詢 備注
A1531549 測頭：量程：0—10mm；低端分辨率：10μm；容差：±（1%+25μm）；最小曲率半徑（凸/凹）：25mm/100mm；最小測量面積：φ50mm；最小基體厚度：50μm；尺寸（mm）：φ60x50；品牌：德國EPK 1 22390 洽詢 備注
A1531550 測頭：量程：0—20mm 低端分辨率：10μm；容差：±（1%+50μm）；最小曲率半徑（凸/凹）：25mm/100mm；最小測量面積：φ70mm；最小基體厚度：50μm；尺寸（mm）：φ65x75；品牌：德國EPK 1 22390 洽詢 備注
A1531551 測頭：量程：0—100mm；低端分辨率：100μm；容差：±（1%+0.3mm）；最小曲率半徑（凸/凹）：100mm/平直；最小測量面積：φ200mm；最小基體厚度：50μm；尺寸（mm）：φ126x155；品牌：德國EPK 1 28400 洽詢 備注
A1531552 測頭：絕緣基體上的有色金屬覆層：量程：10—200μm；低端分辨率：0.2μm；容差：±（1%+1μm）；最小曲率半徑（凸/凹）：只限平直表面；最小測量面積：φ7mm；最小基體厚度：無限制；尺寸（mm）：φ17x80；品牌：德國EPK 1 16397 洽詢 備注
A1531553 測頭：鐵基體上未固化粉末涂層：0-1600um，低端分辨率0.1um；品牌：德國EPK 1 20690 洽詢 備注
A1531554 測頭：鋁箔或鋁薄壁管上薄涂層；0-200um,分辨率0.1um；品牌：德國EPK 1 22688 洽詢 備注
A1531555 用于測頭N02 Tu的專用支架；品牌：德國EPK 1 33421 洽詢 備注
A1531556 RS232 接口電纜 for 2100/4100；品牌：德國EPK 1 930 洽詢 備注
A1531557 MSOFT41 數(shù)據(jù)分析軟件 for 4100：配MiniTest 1100/2100/3100/4100 (用于連接個人電腦)；品牌：德國EPK 1 4651.7 洽詢 備注
A1531558 精密探頭支架：Probe guide, precision；品牌：德國EPK 1 36385 洽詢 備注
AL1532285 MiniPrint4100專用打印機(jī)：適合EPK除700系列所有產(chǎn)品；品牌：德國EPK 1 7891 洽詢 備注
AL1532286 MiniPrint4100-2包可充電電池：（需2包電池，version 2&3）；品牌：德國EPK 1 640 洽詢 備注
AL1532287 測頭：鐵及銅鋁基體上未固化粉末涂層：0-1600um,分辨率0.1um；品牌：德國EPK 1 19617 洽詢 備注
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