雙光束紫外可見分光光度計-價格|雙光束分光光度計|紫外分光光度計|紫外可見分光光度計-上海艾測電子科技有限公司

艾測電子科技有限公司

中國區(qū)訂購熱線 021-69978588

今日天氣：

今天是：

產(chǎn)品目錄

廠商名稱	產(chǎn)品名稱	產(chǎn)品訂貨號	貨期（周）	產(chǎn)品價格
中國	雙光束紫外可見分光光度計	A1130975	洽詢	79333

產(chǎn)品特點

雙光束紫外可見分光光度計是引進吸收日本島津公司先進技術(shù)基礎(chǔ)上推出的自動記錄分光光度計，軟件基于Windows98

平臺，界面友好、美觀，操作簡單，通過打印機可打印出圖文合一的分析報告,并可將圖譜數(shù)據(jù)或測試數(shù)據(jù)傳送Execl

進行處理，可將圖譜貼至Word中發(fā)表，儀器具有波長掃描、時間掃描、定量分析、定波長測試、多波長測試等功能，

優(yōu)異的性能，適合用于醫(yī)藥、藥學(xué)、生物化學(xué)、環(huán)境保護、化學(xué)工業(yè)等實驗室

的日常分析和研究工作的需要。

主要特點：

采用全息閃耀光柵，雙光束C-T式光路結(jié)構(gòu)，高分辨率，低雜散光，測光精度高，穩(wěn)定性能好。

微機控制，自動記錄，打印機可在一張記錄紙上打印出光譜圖、測試數(shù)據(jù)及操作參數(shù)。

光源自動轉(zhuǎn)換（可在294nm～364nm間任意設(shè)定）

功能極強的光譜處理能力。

軟件特點：

信息存貯容量大，保存方便。

軟件提供四個圖譜通道臨時貯存圖譜，可進行覆蓋和重疊方式的透過率、吸光度、吸收度對數(shù)和能量圖譜掃描，透過

率和吸光度的圖譜可輕松地相互轉(zhuǎn)換，對圖譜可進行圖譜和圖譜、圖譜和系數(shù)的四則運算、導(dǎo)數(shù)運算。

圖譜的峰谷檢測、縮放輕松自如。

時間掃描可進行動力學(xué)研究。

定量分析提供了濃度線性回歸法、方法中提供了待定系數(shù)法和系數(shù)輸入法可進行曲線擬合及異常點剔除、2λ

和3λ的測定，3λ提供了自動的波長設(shè)定并提供10組波長數(shù)據(jù)供用戶選擇使用。

軟件提供了定波長和多波長測試，并可對測試數(shù)據(jù)進行注釋，對同一樣品多用戶的測試提供了方便，多波長

測試則可進行多達20個點波長的測試。

可輕松地將貯存圖譜的參數(shù)設(shè)置為儀器當(dāng)前測試條件。

打印機可進行參數(shù)與圖譜打印、參數(shù)與圖譜及數(shù)據(jù)打印、參數(shù)與數(shù)據(jù)打印和工作曲線的打印。

技術(shù)指標(biāo)

測光方式：雙光束C-T式光路結(jié)構(gòu)，全息閃耀光柵分光器，光電倍增管檢測。

波長范圍：190nm～900nm

分辯率：優(yōu)于0.15nm

光譜帶寬：0.08nm～5nm間隔0.01nm連續(xù)可調(diào)

波長最大允許誤差：±0.3nm（內(nèi)裝自動波長校正裝置）

波長重復(fù)性：0.2nm

雜散光：≤0.08%（T）（以NaI溶液在220nm處）

透射比最大允許誤差：±0.3%τ（以NBS930D測定）

透射比重復(fù)性：0.2%（T）

掃描速度：快、中、慢

穩(wěn)定性：≤0.004A/30min

噪聲：±0.3%（100%處） ±0.1%（0%處）

其它：

主機尺寸和重量：560mm×480mm×190mm 35Kg

測量特性

物理特性

可選附件

持有證書

備注

產(chǎn)品規(guī)格列表

產(chǎn)品訂貨號	產(chǎn)品介紹	符合標(biāo)準(zhǔn)	最小訂量	價格	貨期	備注
A1130975	雙光束紫外可見分光光度計：測光方式：雙光束C-T式光路結(jié)構(gòu)，全息閃耀光柵分光器，光電倍增管檢測；波長范圍：190nm～900nm；分辯率：優(yōu)于0.15nm；光譜帶寬：0.08nm～5nm間隔0.01nm連續(xù)可調(diào)；波長最大允許誤差：±0.3nm（內(nèi)裝自動波長校正裝置）；波長重復(fù)性：0.2nm；雜散光：≤0.08%（T）（以NaI溶液在220nm處）；透射比最大允許誤差：±0.3%τ（以NBS930D測定）；透射比重復(fù)性：0.2%（T）；掃描速度：快、中、慢；穩(wěn)定性：≤0.004A/30min；噪聲：±0.3%（100%處） ±0.1%（0%處）；其它：主機尺寸和重量：560mm×480mm×190mm 35Kg，；品牌：中國		1	79333	洽詢	備注