艾測電子科技有限公司
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| 廠商名稱 | 產品名稱 | 產品訂貨號 | 貨期（周） | 產品價格 |
|---|---|---|---|---|
| 中國 | 高精度覆層測厚儀 | A1535149 | 洽詢 | 洽詢 |
產品特點
的厚度。
本儀器能廣泛地應用在電鍍、防腐、航天、航空、化工、汽車、造船、輕工、商檢等檢測領域。既可用于實驗室，也可用于
工程現場。配置不同的探頭，適用于不同場合。它是無損檢測行業(yè)的必備儀器。
功能特點
兩種工作方式：直接方式和成組方式轉換
兩種測量方式：單次測量和連續(xù)測量（大面積內快速獲取讀數）轉換公、英制轉換
開機后顯示最后一個讀數
背景照明（可選擇）
聲音提示數據已讀取
可設置數據的測量范圍，聲音提示數據超出允許的測量范圍
具有測量數據存儲功能
具有測量數據的統(tǒng)計計算功能
具有測量數據的刪除功能（刪除當前測量值，刪除當前組測量數據，刪除當前組所有數據）
可存儲295個數據
全中文菜單
多種校準方式
具有手動和自動關機功能
LT200-1N標配N1探頭
標準配置：主機、探頭（N1）、基體、試塊、5試片（50µm、100µm、200µm、500、1000µm）、9V堿性電池
技術指標
|
探頭 |
A1535150 |
A1535151 |
A1535152 |
A1535153 |
A1535154 |
A1535155 |
A1535156 | |||||
|
測量原理 |
磁性 |
渦流 |
||||||||||
|
測量范圍（μm） |
0～400 |
0～1250 |
0～10mm |
0～400 |
0～12500 |
10～200 | ||||||
|
測量精度μm |
一點校準 |
±[(1～3)%H+0.7] |
±（3%H+1） |
±（3%H+10） |
±（3%H+1） |
±（3%H+1.5） |
±(3%H+1) | |||||
|
二點校準 |
±（1～3％H+0.7） |
±[(1~3)%H+1] |
±[(1～3)%H+10] |
±[(1～3)%H+1] |
±[(1～3)%H+1.5] |
--- | ||||||
|
低限分辨率 |
0.1 |
0.1 |
1 |
0.1 |
0.1 |
1 | ||||||
|
最小曲率半徑(mm) |
(凸)1 |
1.5 |
平直 |
10 |
1.5 |
3 |
僅為平面 | |||||
|
最小面積直徑(mm) |
￠3 |
￠7 |
￠40 |
￠4 |
￠5 |
￠7 | ||||||
|
基本臨界厚度(mm) |
0.2 |
0.5 |
2 |
0.3 |
0.3 |
無限制 | ||||||
測頭選用參考表
|
覆蓋層基體 |
有機材料等非磁性覆蓋層（如：漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽極化處理等） |
非磁性的有色金屬覆蓋層（如：鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等） | |||
|
覆蓋層厚度不超過100μm |
覆蓋層厚度超過100μm |
覆蓋層厚度不超過100μm |
覆蓋層厚度超過100μm | ||
|
如鐵、鋼等磁性金屬 |
被測面積直徑大于30mm |
F400型測頭0～400μm |
F1型測頭 |
F400型測頭0～400μm |
F1型測頭 |
|
被測面積直徑小于30mm |
F400型測頭0～400μm |
F400型測頭0～400μm |
F400型測頭0～400μm |
F400型測頭0～400μm | |
|
如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等有色金屬 |
被測面積直徑大于10mm |
N1型測頭0～1250μm |
僅用于銅上鍍鉻N1型測頭0～40μm N400測頭0～40μm | ||
|
被測面積直徑大于10mm |
N400測頭0～400μm |
N400測頭0～40μm | |||
|
塑料、印刷線路非金屬基體 |
被測面積直徑大于7mm |
-- |
-- |
CN02型測頭10～200μm | |
測量特性
物理特性
可選附件
持有證書
備注
產品規(guī)格列表
| 產品訂貨號 | 產品介紹 | 符合標準 | 最小訂量 | 價格 | 貨期 | 備注 |
| A1535149 | 高精度覆層測厚儀：本儀器能廣泛地應用在電鍍、防腐、航天、航空、化工、汽車、造船、輕工、商檢等檢測領域。既可用于實驗室，也可用于工程現場。配置不同的探頭，適用于不同場合。品牌：中國 | 1 | 洽詢 | 洽詢 | 備注 | |
| A1535150 | 探頭：測量原理：磁性；測量范圍（μm）：0～400；測量精度μm：一點校準：±[(1～3)%H+0.7]；二點校準：±（1～3％H+0.7）；低限分辨率：0.1；最小曲率半徑(mm)：(凸)1；最小面積直徑(mm)：￠3；基本臨界厚度(mm)：0.2；品牌：中國 | 1 | 4433 | 洽詢 | 備注 | |
| A1535151 | 探頭：測量原理：磁性；測量范圍（μm）：0～1250；測量精度μm：一點校準±（3%H+1）；二點校準：±[(1~3)%H+1]；低限分辨率：0.1；最小曲率半徑(mm)：1.5；最小面積直徑(mm)：￠7；基本臨界厚度(mm)：0.5；品牌：中國 | 1 | 2100 | 洽詢 | 備注 | |
| A1535152 | 探頭：測量原理：磁性；測量范圍（μm）：0～1250；測量精度μm：一點校準±（3%H+1）；二點校準：±[(1~3)%H+1]；低限分辨率：0.1；最小曲率半徑(mm)：平直；最小面積直徑(mm)：￠7；基本臨界厚度(mm)：0.5；品牌：中國 | 1 | 8216 | 洽詢 | 備注 | |
| A1535153 | 探頭：測量原理：磁性；測量范圍（μm）：0～10mm；測量精度μm：一點校準±（3%H+10）；二點校準：±[(1~3)%H+10]；低限分辨率：1；最小曲率半徑(mm)：10；最小面積直徑(mm)：￠40；基本臨界厚度(mm)：2；品牌：中國 | 1 | 4433 | 洽詢 | 備注 | |
| A1535154 | 探頭：測量原理：渦流；測量范圍（μm）：0～400；測量精度μm：一點校準±（3%H+1）；二點校準：±[(1~3)%H+1]；低限分辨率：0.1；最小曲率半徑(mm)：1.5；最小面積直徑(mm)：￠4；基本臨界厚度(mm)：0.3；品牌：中國 | 1 | 4433 | 洽詢 | 備注 | |
| A1535155 | 探頭：測量原理：渦流；測量范圍（μm）：0～12500；測量精度μm：一點校準±（3%H+1.5）；二點校準：±[(1~3)%H+1.5]；低限分辨率：0.1；最小曲率半徑(mm)：3；最小面積直徑(mm)：￠5；基本臨界厚度(mm)：0.3；品牌：中國 | 1 | 2100 | 洽詢 | 備注 | |
| A1535156 | 探頭：測量原理：渦流；測量范圍（μm）：10～200；測量精度μm：一點校準±（3%H+1）；二點校準：---；低限分辨率：1；最小曲率半徑(mm)：僅為平面；最小面積直徑(mm)：￠7；基本臨界厚度(mm)：無限制；品牌：中國 | 1 | 洽詢 | 洽詢 | 備注 |
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